题 目：纳米二次离子探针实验案例讨论
主 讲 人：殷博昊
时 间：2023年4月6日（周四）中午12:20
地 点：16教学楼221报告厅
摘 要：在纳米二次离子探针的测试中，样品表面的平整度及导电性对测试精度有着显著的影响。本次报告将通过几个案例讨论样品状态对测试结果的影响，并对样品前处理设备进行简要介绍。
主 持 人：孙传强
In nano-secondary ion probe mass spectrometer (NanoSIMS) experiments, the flatness and conductivity of the sample surface has a significant impact on the measurement accuracy. This presentation will discuss the influence of sample condition on test results through several case studies and provide a brief overview of sample pretreatment equipment.
欢迎老师同学们参会讨论！
